東京大学 化学システム工学科/専攻
工学部
工学系研究科
東京大学
HOME
アクセス
ENGLISH
学科/専攻紹介
化シスの特徴
学びのフィールド
産学連携
化シスで学ぼう!
教員インタビュー
カリキュラム・開講科目
学部
大学院
企業インターン・進路
国内インターンシップ
海外インターンシップ
プラクティススクール
進路情報
卒業生の声
教員・研究室一覧
研究室一覧
教員一覧
ENGLISH
お知らせ
News
HOME
>
お知らせ
>
戸野倉賢一准教授代表の「近赤外レーザーを応用した安定同位体計測法の開発」が、JST先端計測分析技術・機器開発事業に採択されました。
戸野倉賢一准教授代表の「近赤外レーザーを応用した安定同位体計測法の開発」が、JST先端計測分析技術・機器開発事業に採択されました。
2009年8月6日